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SE-RD-STD光谱椭偏仪
设备针对科研和工业环境中薄膜测量推出的高精度、快速摄谱型光谱椭偏仪，波长范围覆盖紫外、可见到红外。仪器基于高灵敏度光谱探测单元和光谱椭偏仪分析软件。SE-RD-STD 拥有强大的材料数据库，极其容易建立或更改一个测量 Recipe。只需按照名称选取材料，就能够更改基底、环境和膜层的光学常数。
Iso 认可的完全非接触点( 先端 0.5um)自动对焦测量方法，提高数据的客观性，兼具高分辨率及高精密载台的标准广范围高速测量系统，适用于透镜的表面缺陷、模塑产品的形状缺陷以及摩擦学磨损与划痕的定量评估，适用领域:学术单位、精密加工、精密冲压、面板、半导体、医疗、电子零件。
德瑞茵ABT2000 全自动推拉力测试机
ABT2000 键合力测试机是一种精密的自动测试仪器，可用于测试半导体和电子制造业中的拉力和剪切力测试应用。自动编程快捷、操作简单，搭配自主软件TRY-I.See.快速自动图像识别定位，适用于半导体封装，LED封装，军工器件等一系列封装工艺，支持破坏性与非破坏性自动测试。
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