扫描电子显微镜
原子力显微镜
超声波影像装置
分光光度计
锂电池异物分析
断面观察用超声波切割仪/离子研磨仪
X射线荧光镀层厚度测量仪
原子吸收分光光度计
ICP-OES/离子色谱系统/气相质谱GC-MS
极表面分析设备
电化学分析设备
X射线荧光分析仪
液相色谱仪/高效全自动氨基酸分析仪
纳米压痕/台阶仪/划痕仪/摩擦磨损分析仪
热分析
X射线衍射仪
温湿度综合测试箱
工业X射线/CT检查装置
火花直读光谱仪
泛用性量测设备
DIENER等离子系统
反射式膜厚仪/光谱椭偏仪
自动聚焦激光显微镜
半导体行业解决方案
产品
HITACHI 全自动型原子力显微镜 AFM5500M
AFM5500M是操作性和测量精度大幅提高,配备4英寸自动马达台的全自动型原子力显微镜。并且搭载了最新研发的水平扫描器,可实现不受圆弧运动影响的准确测试。
HITACHI 超声波影像装置
使用超声波非破坏获得半导体封装、电子零部件、陶瓷、金属树脂零部件等的内部孔隙,裂纹,剥离等缺陷影像的装置。X射线装置、红外线检查装置、光学显微镜检查不出来的纳米级缝隙也能检测出来。
OKOS 超声波影像装置 VUE 250-P / VUE 400-P
台式VUE 250-P和落地式VUE 400-P两款设备对应个性化需求 可根据客户需要进行选配和特别定制。便携式设备方便各种条件下的使用。
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