反射式膜厚仪/光谱椭偏仪
利用光学干涉原理，通过分析薄膜表面反射光和薄膜与基底界面反射光相干涉形成的反射光谱，快速准确测量薄膜厚度、光学常数等信息。
产品分类
Product Category
导航
联系我们
地址
黄浦办公室：
上海市黄浦区陆家浜路1011号新世纪大厦510室
杨浦办公室：
上海市杨浦区国霞路458弄星汇广场二期7幢405室
华南办公室：
广东省东莞市长安镇振安东路775号2438室
南京办公室：
南京市花园路11号1栋116室
台湾公司信息 泰傳科技股份有限公司
總公司桃園市中壢區青峰路一段57號6F
+886-3-3565696
辦事處 台南市永康區永科3路99號3F-6
+886-6-2313885
