X射线荧光镀层厚度测量仪

X射线荧光镀层厚度测量仪

  • FT230

    FT230

    FT230作为日立全新退出的镀层测厚设备,在简化和加速零件和组件的测试,从而更轻松地在更短的时间内测量更多零件。FT230 具有 Find My Part™ (查找我的样品)智能识别,全新的设计大大提高了操作使用效率。

  • FT160系列

    FT160系列

    FT160 台式 XRF 镀层测厚仪,可对不断微型化的电子部件镀膜厚度进行快测, 安全和便捷的测量。更大尺寸范围的样品,适用于当今 PCB、半导体和微连接器上的微小部件。

  • X-Strata920 系列

    X-Strata920 系列

    X-Strata920 是一款高精度台式XRF镀层测厚仪,具有多种配置选择,可分析单层和多镀层(包括合金层),非常适合测量各种基材上的涂层,包括电子产品、连接器、装饰品和珠宝等分析。

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