X射线荧光分析仪工厂

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X射线荧光分析仪

HITACHI X射线荧光分析仪 EA1400

EA1400 采用全新硅漂移探测器（SDD）提高分析镉和铅等RoHS物质的准确度和速度，可辨别矿渣（硅、钙、铝和镁）、聚合物、矿物、化学品和其他材料中的主要成分，为了加快和简化生产环境中的RoHS检测，允许客户随指令变化更新物质控制标准。

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HITACHI 台式X射线荧光光谱仪 LAB-X5000

LAB-X5000作为旗舰版元素分析仪，可实现快速轻松的质量控制。其优势在于其简单和坚固，通过高效的用户界面，操作者只需单次轻触一个按钮，即可轻松获得可重复的结果。大气补偿功能适应各种环境，无需真空，降低分析成本。

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HITACHI X射线异物解析设备 EA8000A

EA8000A可自动高速检测出妨害锂电子充电电池和燃料电池的20μm级微小金属异物，可对元素类型进行测定。选择检查条件后，开始测量，仪器会自动通过X射线检测出金属异物然后确定元素，是锂电池的制造现场故障解析及检查中不可或缺的存在。

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